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带隙基准 温度漂移 CMOS带隙基准源温度补偿的研究

时间:2019-02-06 来源:东星资源网 本文已影响 手机版

  摘 要:在模拟和混合集成电路中,CMOS带隙基准源是应用广泛的重要单元,针对温度补偿对基准源性能的影响,本文从介绍CMOS带隙基准源的基本原理出发,分析了一阶补偿、二阶补偿以及更高阶补偿的CMOS带隙基准电路结构。
  关键字:温度补偿;带隙基准源;精度
  集成电路中的三种常用基准源中,掩埋齐纳基准源不兼容标准CMOS工艺,输出一般大于5V,XFET基准源也是不能兼容标准CMOS工艺,相比之下,带隙(Bandgap)基准源具有与CMOS工艺完全兼容,可以工作于低电源电压下,温度漂移、噪声和PSRR等性能满足大部分系统要求的优点[1]。
  带隙基准源在模拟和数字集成电路中应用非常广泛,比如在数模转换器(digital-analog converters,DAC),模数转换(analog- digital converters,ADC),DC/DC转换器,AC/DC转换器,运算放大器,线性稳压器等电路中,基准电压的精度决定着这些电路的性能。随着集成电路规模的发展,电子设备的体积、重量和功耗越来越小,这对电源电路的集成化、小型化以及性能和精度提出了越来越高的要求[2]。本文在分析CMOS带隙基准源基本原理的基础上,比较了不同温度补偿设计的CMOS带隙基准源。
  1 CMOS带隙基准源原理
  为了提高CMOS带隙基准源的精度,除了选择上述几种补偿方法,还有一些不常用的技术:利用β的温度系数设计高阶补偿,设计专门的工艺误差补偿电路、校准电路减小电阻比值、增大双极晶体管的面积比值等电路。
  4 结束语
  随着集成电路规模的发展,一阶补偿的带隙基准源已经不能满足系统的要求,因此研究不同结构的高精度带隙基准源是非常有意义的。本文在分析CMOS带隙基准源基本原理的基础上,分析比较了不同补偿设计的带隙基准源。
  参考文献
  [1] Abraham I. Pressman,王志强等译,开关电源设计(第二版). 北京: 电子工业出版社,2005.
  [2] P.R. Gray and R.G. Meyer,Analysis and Design of Analog Integrated Circuits. New York: Wiley,1993.
  [3] 刘成,吴玉广. 峰值电流控制模式中斜坡补偿的分析. 控制系统,2008,9: 49-50.
  [4] 朱樟明,张永泊,杨银堂等.一种具有省电模式的CMOS振荡器电路.固体电子学研究与进展.2008.28(1):109-112.
  作者简介
  毕长红,山东济南人,电子科技大学微电子专业 方向是铁电存储器。

标签:基准 补偿 温度 研究